MEMS麥克風(fēng)的制備方法及MEMS器件的犧牲層的釋放方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011528010.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112601168A | 公開(公告)日 | 2021-04-02 |
申請公布號 | CN112601168A | 申請公布日 | 2021-04-02 |
分類號 | H04R19/00(2006.01)I;H04R19/04(2006.01)I;H04R31/00(2006.01)I | 分類 | 電通信技術(shù); |
發(fā)明人 | 金文超;聞永祥;孫福河;楊浩;陳鑫;尤業(yè)銳 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州士蘭集昕微電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王宏婧 |
地址 | 310012浙江省杭州市錢塘新區(qū)10號大街(東)308號13幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種MEMS麥克風(fēng)的制備方法及MEMS器件的犧牲層的釋放方法,在襯底上形成氧化層及結(jié)構(gòu)層,在結(jié)構(gòu)層的表面以及結(jié)構(gòu)層內(nèi)的釋放孔的內(nèi)壁上形成金屬氧化物層,然后利用氣相腐蝕工藝經(jīng)由釋放孔釋放氧化層。在釋放氧化層時,金屬氧化物層能夠提高結(jié)構(gòu)層在氣相腐蝕工藝中的耐熏蒸腐蝕能力,但對氧化層在氣相腐蝕工藝中的耐熏蒸腐蝕能力的影響不大,相當(dāng)于提高了結(jié)構(gòu)層和氧化層在氣相腐蝕工藝中的刻蝕選擇比,從而在保證氧化層完全釋放的情況下,避免結(jié)構(gòu)層的表面被損傷,進而提高了MEMS器件的性能和可靠性。?? |
