串聯(lián)質(zhì)譜設(shè)備和質(zhì)譜檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110737023.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113406182A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113406182A 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01N27/62（2021.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范榮榮;朱輝;黃曉;王攀攀;熊亮;劉毅;齊彥兵;張偉 申請（專利權(quán)）人 昆山禾信質(zhì)譜技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 廣州華進聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 劉廣
地址 215311江蘇省蘇州市昆山市巴城鎮(zhèn)學(xué)院路88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種串聯(lián)質(zhì)譜設(shè)備和質(zhì)譜檢測系統(tǒng)。該聯(lián)質(zhì)譜設(shè)備包括聚焦裝置、飛行時間質(zhì)量分析器、離子阱質(zhì)量分析器和控制裝置。聚焦裝置用于對待測離子進行聚焦，使待測離子到達后級的飛行時間質(zhì)量分析器?？刂蒲b置用于根據(jù)測試要求，調(diào)整待測離子的運行軌跡，實現(xiàn)飛行時間質(zhì)譜分析或離子阱質(zhì)譜分析的工作模式切換；飛行時間質(zhì)量分析器用于當(dāng)工作模式為飛行時間質(zhì)譜分析時，對待測離子進行飛行時間質(zhì)譜分析；離子阱質(zhì)量分析器用于當(dāng)工作模式為離子阱質(zhì)譜分析時，對穿過飛行時間質(zhì)量分析器的待測離子進行離子阱質(zhì)譜分析。上述串聯(lián)質(zhì)譜設(shè)備，有利于擴展串聯(lián)質(zhì)譜設(shè)備的應(yīng)用場景。