串級質(zhì)譜儀及其碰撞池

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023303205.7 申請日 -
公開（公告）號 CN213988815U 公開（公告）日 2021-08-17
申請公布號 CN213988815U 申請公布日 2021-08-17
分類號 H01J49/06（2006.01）I;H01J49/42（2006.01）I;H01J49/00（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 朱輝;黃曉;范榮榮;劉毅;王攀攀;張偉;熊亮;齊彥兵 申請（專利權(quán)）人 廣州禾信儀器股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 劉寧
地址 510700廣東省廣州市黃埔區(qū)開源大道11號A3棟102室,A3棟301室,A3棟401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種串級質(zhì)譜儀及其碰撞池，串級質(zhì)譜儀的碰撞池包括：腔室、前段高階場N極桿與后段四極桿。較寬質(zhì)量范圍的離子通過引入電極的引入中心孔進(jìn)入腔室中后，可以順利地進(jìn)入到前段高階場N極桿中，前段高階場N極桿能捕獲離子的質(zhì)量范圍較寬，此外，碰撞氣經(jīng)過通氣口進(jìn)入到腔室對應(yīng)于前段高階場N極桿的部位，碰撞氣與進(jìn)入到前段高階場N極桿中的離子進(jìn)行碰撞，使得離子發(fā)生裂解形成碎片，后段四極桿能實現(xiàn)碎裂后且較寬范圍的碎片離子集中在中心軸線的附近，使得碎片離子的聚焦效果較好，高效通過引出電極的引出中心孔，也就是能實現(xiàn)離子質(zhì)量范圍更寬、傳輸效率更高，能有效減少離子在高氣壓碰撞池中的駐留時間。