多點(diǎn)表面位移測(cè)量方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110245684.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN112880572A 公開(kāi)(公告)日 2021-06-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN112880572A 申請(qǐng)公布日 2021-06-01
分類號(hào) G01B11/03 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王云澤;吳旭;武同;劉玉杰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 杭州國(guó)翌科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶雙馬智翔專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 顧曉玲
地址 311200 浙江省杭州市蕭山區(qū)杭州蕭山空港經(jīng)濟(jì)區(qū)保稅路西側(cè)保稅大廈856室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種多點(diǎn)表面位移測(cè)量方法及裝置。該方法為:在待測(cè)物表面確定多個(gè)待測(cè)點(diǎn)位,并額外確定至少一個(gè)位置固定的參考點(diǎn)位;根據(jù)所有點(diǎn)位的位置確定攝像單元的固定位置,并為每個(gè)點(diǎn)位設(shè)置攝像單元拍攝預(yù)置點(diǎn),采集每個(gè)點(diǎn)位的基準(zhǔn)圖;控制攝像單元在每個(gè)點(diǎn)位對(duì)應(yīng)的預(yù)置點(diǎn)逐點(diǎn)位巡航拍攝,采集每個(gè)點(diǎn)位的測(cè)量圖;將每個(gè)點(diǎn)位的基準(zhǔn)圖和測(cè)量圖進(jìn)行比較,計(jì)算得到各點(diǎn)位的測(cè)量位移量;根據(jù)參考點(diǎn)位的位移量對(duì)待測(cè)點(diǎn)位的位移量進(jìn)行位移補(bǔ)償,得到各待測(cè)點(diǎn)位的實(shí)際位移量。該方法通過(guò)一個(gè)攝像單元完成待測(cè)物表面的多點(diǎn)位位移測(cè)量,效率高,成本低,引入?yún)⒖键c(diǎn)位對(duì)待測(cè)點(diǎn)位的位移量進(jìn)行位移補(bǔ)償,提高了位移測(cè)量的精度和穩(wěn)定性。