一種待測MCU中DAC的精度驗證電路
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201922464577.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN210807229U | 公開(公告)日 | 2020-06-19 |
申請公布號 | CN210807229U | 申請公布日 | 2020-06-19 |
分類號 | H03M1/10(2006.01)I;H03M1/66(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 李津;朱建興 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州洪芯集成電路有限公司 |
代理機構(gòu) | 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 蘇州洪芯集成電路有限公司 |
地址 | 215123江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)新平街388號21幢13層15單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型揭示了一種待測MCU中DAC的精度驗證電路,與待測對象MCU的DAC輸出相對接,其特征在于該精度驗證電路為自身功能完善的成品芯片,且成品芯片內(nèi)置集成有模數(shù)轉(zhuǎn)換器,DAC輸出信號經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器處理傳入成品芯片,且成品芯片中預(yù)載入設(shè)有用于DAC精度驗證的數(shù)字輸入信號。應(yīng)用本實用新型該精度驗證電路,通過直接使用功能正確的芯片與待測芯片互聯(lián),參與對DAC精度的芯片間驗證,在保障精度驗證結(jié)果的前提下大幅降低了操作成本,便于推廣應(yīng)用。?? |
