芯片調試方法、系統(tǒng)和調試模塊

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810246880.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101769988A 公開（公告）日 2010-07-07
申請公布號 CN101769988A 申請公布日 2010-07-07
分類號 G01R31/317(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張明明;王軍;閻斌;何晶 申請（專利權）人 易視芯科技（北京）有限公司
代理機構 北京市德恒律師事務所 代理人 梁永
地址 100086北京市海淀區(qū)中關村大街32號和盛大廈12層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種芯片調試方法，包括以下步驟：調試模塊接收微控制單元MCU發(fā)送的灌入指令和對應的灌數(shù)點，并將輸入所述灌數(shù)點的灌入數(shù)據(jù)緩存在所述調試模塊的寫數(shù)據(jù)寄存器中；當所述寫數(shù)據(jù)寄存器中緩存的所述灌入數(shù)據(jù)達到預定bit值時，所述調試模塊將緩存的所述灌入數(shù)據(jù)輸入所述灌數(shù)點中，同時向時鐘模塊發(fā)送時鐘使能信號以在灌數(shù)時開啟所述灌數(shù)點的時鐘。在本發(fā)明中調試模塊的邏輯控制由MCU通過APB總線配置調試模塊的寄存器實現(xiàn)，灌數(shù)和抓數(shù)方式簡單靈活。