芯片調(diào)試方法、系統(tǒng)和調(diào)試模塊
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN200810246880.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN101769988B | 公開(公告)日 | 2013-11-06 |
申請公布號 | CN101769988B | 申請公布日 | 2013-11-06 |
分類號 | G06F11/36(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張明明;王軍;閻斌;何晶 | 申請(專利權(quán))人 | 易視芯科技(北京)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京德恒律師事務(wù)所 | 代理人 | 梁永 |
地址 | 100086 北京市海淀區(qū)中關(guān)村大街32號和盛大廈12層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出一種芯片調(diào)試方法,包括以下步驟:調(diào)試模塊接收微控制單元MCU發(fā)送的灌入指令和對應(yīng)的灌數(shù)點(diǎn),并將輸入所述灌數(shù)點(diǎn)的灌入數(shù)據(jù)緩存在所述調(diào)試模塊的寫數(shù)據(jù)寄存器中;當(dāng)所述寫數(shù)據(jù)寄存器中緩存的所述灌入數(shù)據(jù)達(dá)到預(yù)定bit值時,所述調(diào)試模塊將緩存的所述灌入數(shù)據(jù)輸入所述灌數(shù)點(diǎn)中,同時向時鐘模塊發(fā)送時鐘使能信號以在灌數(shù)時開啟所述灌數(shù)點(diǎn)的時鐘。在本發(fā)明中調(diào)試模塊的邏輯控制由MCU通過APB總線配置調(diào)試模塊的寄存器實現(xiàn),灌數(shù)和抓數(shù)方式簡單靈活。 |
