一種基于銅襯底的氮化物L(fēng)ED垂直芯片及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410814716.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN104576862A | 公開(公告)日 | 2015-04-29 |
申請公布號(hào) | CN104576862A | 申請公布日 | 2015-04-29 |
分類號(hào) | H01L33/14(2010.01)I;H01L33/40(2010.01)I;H01L33/36(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 馬亮;胡兵;劉素娟;李金權(quán);裴曉將 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇巨晶新材料科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北京中科天順信息技術(shù)有限公司;江蘇巨晶新材料科技有限公司 |
地址 | 100085 北京市海淀區(qū)上地十街1號(hào)院2號(hào)樓17層1711室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于銅襯底的氮化物L(fēng)ED垂直芯片及其制備方法,包括n型電極、二維衍生膜、氮化物外延層和p型電極,所述二維衍生膜附著在所述n型電極上,所述氮化物外延層附著在所述二維衍生膜上,所述p型電極附著在所述氮化物外延層上。在制備完成基于銅襯底的氮化物L(fēng)ED外延片后,使用穿孔工藝,從銅襯底的背面開孔至緩沖層或n型電子注入層;制作金屬溝道結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)與n型電子注入層的歐姆接觸,同時(shí)也實(shí)現(xiàn)n型電子注入層與銅襯底的導(dǎo)通;在p型空穴注入層頂部制作p型電極。本發(fā)明所述氮化物L(fēng)ED垂直芯片具有更好的電流擴(kuò)展、更低的熱阻和更高的可靠性等特征,非常適合大電流密度驅(qū)動(dòng)、高光功率密度輸出的應(yīng)用方向。 |
