缺陷檢測(cè)分類方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011633792.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114764768A 公開（公告）日 2022-07-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN114764768A 申請(qǐng)公布日 2022-07-19
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06V10/74（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 蔡?hào)|佐;林子甄;郭錦斌;簡(jiǎn)士超 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 518109廣東省深圳市龍華新區(qū)觀瀾街道大三社區(qū)富士康觀瀾科技園B區(qū)廠房4棟、6棟、7棟、13棟（Ⅰ段）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及圖像檢測(cè)領(lǐng)域，提供一種缺陷檢測(cè)分類方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。所述方法包括：將待檢測(cè)圖像輸入至訓(xùn)練好的自編碼器，獲得與所述待檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)的重構(gòu)圖像；基于過(guò)濾小噪聲重構(gòu)誤差的缺陷判斷準(zhǔn)則，判斷所述待檢測(cè)圖像是否存在缺陷；當(dāng)判定所述待檢測(cè)圖像存在缺陷時(shí)，分別計(jì)算所述待檢測(cè)圖像與多個(gè)標(biāo)記缺陷類別的范本圖像的結(jié)構(gòu)相似性數(shù)值，確定最高的結(jié)構(gòu)相似性數(shù)值對(duì)應(yīng)的范本圖像所標(biāo)記的缺陷類別，將所述待檢測(cè)圖像分類至所確定的缺陷類別。本發(fā)明可提高對(duì)圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)和分類的效率。