缺陷檢測方法及裝置、電子裝置及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011615846.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114764764A 公開（公告）日 2022-07-19
申請公布號 CN114764764A 申請公布日 2022-07-19
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06V10/774（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蔡東佐;郭錦斌;林子甄;簡士超 申請（專利權(quán)）人 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 518109廣東省深圳市龍華新區(qū)觀瀾街道大三社區(qū)富士康觀瀾科技園B區(qū)廠房4棟、6棟、7棟、13棟（Ⅰ段）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括：獲取利用正常訓(xùn)練樣本訓(xùn)練自編碼器及自回歸網(wǎng)絡(luò)時得到的訓(xùn)練權(quán)重；載入所述訓(xùn)練權(quán)重至所述自編碼器及所述自回歸網(wǎng)絡(luò)中以通過載入所述訓(xùn)練權(quán)重的所述自編碼器對測試樣本進(jìn)行編碼得到測試編碼特征；將所述測試編碼特征輸入至載入所述訓(xùn)練權(quán)重的所述自回歸網(wǎng)絡(luò)來輸出測試結(jié)果，所述測試結(jié)果包括所述測試樣本存在缺陷及所述測試樣本不存在缺陷中的一種。本案還提供一種缺陷檢測裝置、一種電子裝置及一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，可避免缺陷的確定的誤差。