缺陷檢測(cè)方法、裝置、智能終端及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111061917.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113781434A 公開（公告）日 2021-12-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN113781434A 申請(qǐng)公布日 2021-12-10
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 歐超光;韓玉璽;張魯江;王翔龍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市高川自動(dòng)化技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 朱陽波
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)71區(qū)新政廠房A棟401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷檢測(cè)方法、裝置、智能終端及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，上述缺陷檢測(cè)方法包括：獲取目標(biāo)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)；獲取待訓(xùn)練二維圖像和待訓(xùn)練三維圖像，基于上述目標(biāo)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)上述待訓(xùn)練二維圖像和待訓(xùn)練三維圖像進(jìn)行訓(xùn)練后獲得模型訓(xùn)練集；獲取待訓(xùn)練缺陷檢測(cè)模型，基于上述模型訓(xùn)練集對(duì)上述待訓(xùn)練缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練，獲得目標(biāo)缺陷檢測(cè)模型；獲取待檢測(cè)圖像，基于上述目標(biāo)缺陷檢測(cè)模型和上述待檢測(cè)圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明方案結(jié)合神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和缺陷檢測(cè)模型自動(dòng)進(jìn)行缺陷檢測(cè)，有利于提高缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率。