缺陷檢測方法、裝置、智能終端及計算機可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111061917.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113781434A 公開（公告）日 2021-12-10
申請公布號 CN113781434A 申請公布日 2021-12-10
分類號 G06T7/00（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 歐超光;韓玉璽;張魯江;王翔龍 申請（專利權）人 深圳市高川自動化技術有限公司
代理機構 深圳市君勝知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 朱陽波
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)71區(qū)新政廠房A棟401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷檢測方法、裝置、智能終端及計算機可讀存儲介質，其中，上述缺陷檢測方法包括：獲取目標神經(jīng)網(wǎng)絡；獲取待訓練二維圖像和待訓練三維圖像，基于上述目標神經(jīng)網(wǎng)絡對上述待訓練二維圖像和待訓練三維圖像進行訓練后獲得模型訓練集；獲取待訓練缺陷檢測模型，基于上述模型訓練集對上述待訓練缺陷檢測模型進行訓練，獲得目標缺陷檢測模型；獲取待檢測圖像，基于上述目標缺陷檢測模型和上述待檢測圖像進行缺陷檢測。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明方案結合神經(jīng)網(wǎng)絡和缺陷檢測模型自動進行缺陷檢測，有利于提高缺陷檢測的準確性和效率。