電容式指紋采集系統(tǒng)的壞線自檢測(cè)和自修復(fù)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610782985.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107818556B 公開（公告）日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN107818556B 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06K9/00（2006.01）I;G01R31/58（2020.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 周斌;陶長(zhǎng)青;戴一峰;張飛飛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江蘇邦融微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 昆山四方專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 盛建德;張文婷
地址 215300江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮(zhèn)葦城南路1699號(hào)9層909-1室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電容式指紋采集系統(tǒng)的壞線自檢測(cè)和自修復(fù)方法，檢測(cè)時(shí)首先計(jì)算采集到整個(gè)指紋圖像的整體平均灰度以及每一行的行平均灰度；如果整個(gè)指紋圖像的整體平均灰度大于閾值A(chǔ)，或者小于閾值B，則判定模塊的整體圖像效果達(dá)不到量產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，判定為不良品，不需要進(jìn)行后續(xù)的壞線檢測(cè)和修復(fù)步驟；如果圖像的行平均灰度大于閾值C，或者小于閾值D，則該行平均灰度不計(jì)入行塊平均灰度，否則該行平均灰度計(jì)入行塊平均灰度；依次檢測(cè)完所有列。本發(fā)明可以自動(dòng)檢測(cè)并自動(dòng)修復(fù)由于工藝不良、工藝約束條件、模組制備、生產(chǎn)、使用等造成的壞線，不需要手動(dòng)標(biāo)定壞線位置，修復(fù)效果佳，能有效提升指紋特征數(shù)據(jù)，算法量小、運(yùn)行速度快、適用性高。