芯片測試裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202022335873.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN213302440U | 公開（公告）日 | 2021-05-28 |
| 申請公布號 | CN213302440U | 申請公布日 | 2021-05-28 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 劉磊;王露;戴一峰 | 申請（專利權(quán)）人 | 江蘇邦融微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 王晨光 |
| 地址 | 215316江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮(zhèn)葦城南路1699號9層909-1室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及芯片測試裝置，包括檢測基架、放置板和檢測單元，放置板通過彈性柱安裝在檢測基架上，放置板設(shè)有放置槽，放置槽底端開設(shè)有檢測通道，檢測通道對準(zhǔn)芯片的所有觸點，放置槽兩側(cè)活動設(shè)有多個定位塊，檢測單元包括上檢測板和下檢測板，下檢測板位于放置板的下方，上檢測板可升降地設(shè)置在放置板的上方，上檢測板兩側(cè)設(shè)有壓條，壓條的底面連接有多個壓塊，壓塊對準(zhǔn)放置板的兩側(cè)。本實用新型通過設(shè)有放置在上檢測板和下檢測板之間的放置板，放置板上的檢測通道可以對應(yīng)芯片上的所有觸點，芯片的多個觸點同時檢測，節(jié)約人力，此外上壓板可升降設(shè)置，為自動化檢測提供實現(xiàn)基礎(chǔ)，從而最終實現(xiàn)檢測效率的提升。?? |
