掃描電子顯微鏡裝置和電子束檢測設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110746459.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113471041A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
申請公布號 | CN113471041A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
分類號 | H01J37/06(2006.01)I;H01J37/147(2006.01)I;H01J37/244(2006.01)I;H01J37/28(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 孟慶浪;孫偉強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人 | 中科晶源微電子技術(shù)(北京)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 王益 |
地址 | 100176北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路156號院12號樓5層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 提供掃描電子顯微鏡裝置和電子束檢測設(shè)備,掃描電子顯微鏡裝置被配置成向待測樣品的表面投射電子束,包括:電子束源;偏轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu);和物鏡組件。偏轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)包括:第一偏轉(zhuǎn)器,位于電子束源的下游;和第二偏轉(zhuǎn)器,位于第一偏轉(zhuǎn)器的下游。物鏡組件包括:勵磁線圈;和磁軛,由導(dǎo)磁材料形成為朝待測樣品敞開的殼體,包括限定內(nèi)部腔室的中空主體、和從中空主體成角度地向內(nèi)朝光軸延伸的至少一個傾斜部分,所述至少一個傾斜部分的末端形成為極靴,所述勵磁線圈容納于所述內(nèi)部腔室中。所述偏轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)還包括位于第二偏轉(zhuǎn)器與物鏡組件之間、且布置于由所述極靴限定的開口內(nèi)的第三偏轉(zhuǎn)器,第一、第二和第三偏轉(zhuǎn)器中每個是靜電偏轉(zhuǎn)器。 |
