分析源庫模式缺陷檢測器的深層結(jié)構(gòu)體指針分析優(yōu)化方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111279513.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113741969A 公開（公告）日 2021-12-03
申請公布號 CN113741969A 申請公布日 2021-12-03
分類號 G06F8/75（2018.01）I;G06F21/57（2013.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 孫永杰;于微;吳倩;王博;任望;王強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 北京鴻漸科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京東方盛凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李娜
地址 100084北京市海淀區(qū)農(nóng)大南路1號硅谷亮城2B-71A
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開分析源庫模式缺陷檢測器的深層結(jié)構(gòu)體指針分析優(yōu)化方法，包括以下步驟：先收集Source?Sink相關(guān)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，再在函數(shù)調(diào)用圖上分析收集的關(guān)聯(lián)函數(shù)，得到函數(shù)調(diào)用圖的子圖，接著分析子圖中相鄰兩點(diǎn)，得到分段source?sink可達(dá)性判定結(jié)果，最后對分段結(jié)果進(jìn)行交/并操作匯總，得到source?sink整體判定條件；本發(fā)明綜合利用多種靜態(tài)代碼分析技術(shù)，使用啟發(fā)式算法自動(dòng)將復(fù)雜度過高的Source?Sink模式問題合理拆分為若干簡單子問題，再對每個(gè)子問題進(jìn)行單獨(dú)判定，對不可判定問題，能夠縮小影響范圍，給出關(guān)聯(lián)層次較近的相關(guān)函數(shù)，方便進(jìn)行人工校驗(yàn)，可以有效降低代碼分析結(jié)果的誤漏報(bào)率。