分析源庫模式缺陷檢測器的深層結構體指針分析優(yōu)化方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111279513.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113741969B 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN113741969B 申請公布日 2022-03-11
分類號 G06F8/75（2018.01）I;G06F21/57（2013.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 孫永杰;于微;吳倩;王博;任望;王強 申請（專利權）人 北京鴻漸科技有限公司
代理機構 北京東方盛凡知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 李娜
地址 100084北京市海淀區(qū)農(nóng)大南路1號硅谷亮城2B-71A
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開分析源庫模式缺陷檢測器的深層結構體指針分析優(yōu)化方法，包括以下步驟：先收集Source?Sink相關的關聯(lián)函數(shù)，再在函數(shù)調用圖上分析收集的關聯(lián)函數(shù)，得到函數(shù)調用圖的子圖，接著分析子圖中相鄰兩點，得到分段source?sink可達性判定結果，最后對分段結果進行交/并操作匯總，得到source?sink整體判定條件；本發(fā)明綜合利用多種靜態(tài)代碼分析技術，使用啟發(fā)式算法自動將復雜度過高的Source?Sink模式問題合理拆分為若干簡單子問題，再對每個子問題進行單獨判定，對不可判定問題，能夠縮小影響范圍，給出關聯(lián)層次較近的相關函數(shù)，方便進行人工校驗，可以有效降低代碼分析結果的誤漏報率。