基于光纖耦合激光和頻技術的痕量汞濃度檢測方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201510070356.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105987877B | 公開(公告)日 | 2019-08-13 |
申請公布號 | CN105987877B | 申請公布日 | 2019-08-13 |
分類號 | G01N21/17 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 婁秀濤;林宏澤;萬莉;王俊楠;羅成;何賽靈 | 申請(專利權)人 | 蘇州瑞藍環(huán)保科技有限公司 |
代理機構 | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 蘇州瑞藍環(huán)??萍加邢薰?/td> |
地址 | 215500 江蘇省蘇州市常熟市高新技術產業(yè)開發(fā)區(qū)匯金三路東東南會一號樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于光纖耦合激光和頻技術的痕量汞濃度檢測方法及裝置。其裝置包括數據采集卡,兩只激光二極管驅動,兩只帶尾纖的不同波長的二極管激光器,1分2拉錐透鏡光纖,偏硼酸鋇晶體(BBO),石英透鏡,分光棱鏡,兩面反射鏡,分光鏡,參考池,樣品池,兩只光電倍增管,兩只濾波片,計算機。所涵蓋的技術主要是多元線性回歸算法,自動電路控制波長反饋技術,實現了對汞蒸氣濃度的在線連續(xù)檢測。 |
