上下電測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023302887.X 申請日 -
公開（公告）號 CN214041597U 公開（公告）日 2021-08-24
申請公布號 CN214041597U 申請公布日 2021-08-24
分類號 G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張有為;趙啟山;陳光勝 申請（專利權(quán)）人 上海東軟載波微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李耀霞;陸磊
地址 200235上海市徐匯區(qū)龍漕路299號天華信息科技園2A樓5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種上下電測試系統(tǒng)。該上下電測試系統(tǒng)包括：微控制單元，適于接收用于待測芯片上下電測試的電壓策略并基于電壓策略生成相應(yīng)的控制信號；上下電控制電路，包括柵極驅(qū)動器和晶體管，柵極驅(qū)動器適于接收控制信號并基于控制信號生成相應(yīng)的驅(qū)動信號，晶體管的柵極適于接收驅(qū)動信號并基于驅(qū)動信號導(dǎo)通或關(guān)閉晶體管，晶體管的漏極適于接收用于待測芯片上下電測試的測試電壓，NMOS晶體管的源極通過電阻接地并在NMOS晶體管導(dǎo)通時具有測試電壓以輸出至待測芯片。通過該上下電測試系統(tǒng)，可以基于待測芯片的具體應(yīng)用環(huán)境設(shè)定相應(yīng)的電壓策略，還可以保證待測芯片能夠在預(yù)設(shè)的電壓策略下進(jìn)行上下電測試，尤其是進(jìn)行快速上下電測試。