一種改善Lift-off工藝劃片道形貌的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811597810.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109686654A | 公開(公告)日 | 2019-04-26 |
申請公布號 | CN109686654A | 申請公布日 | 2019-04-26 |
分類號 | H01L21/027;H01L21/28 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 蔣曉倩;高攀;李佐;馮華;李瀾濤;林宗芳;鐘偉;熊民權(quán);趙宗盛 | 申請(專利權(quán))人 | 上海芯鈦信息科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 長沙國科天河知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 邱軼 |
地址 | 200000 上海市崇明區(qū)長興鎮(zhèn)潘園公路1800號3號樓14347室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種改善Lift?off工藝劃片道形貌的方法,包括:在襯底上形成有劃片道凹槽的面上涂負膠層;對負膠層曝光并顯影,形成完全覆蓋劃片道凹槽的負膠層;在襯底及負膠層上表面蒸發(fā)金屬膜;去除負膠層上的金屬膜及負膠層;形成透過金屬膜暴露于外界環(huán)境的劃片道凹槽。該方案解決了劃片道金屬膜層斷裂導致封裝成品率低的問題,改善劃片道形貌,提高封裝成品率。 |
