高溫氣體濕度測(cè)量的取樣裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202122359012.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN216116966U | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN216116966U | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-22 |
| 分類號(hào) | G01N1/22（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 楊文明;朱英杰;許杰;趙亮;茹增田;陳光建;葉林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 華能山東石島灣核電有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 項(xiàng)凱 |
| 地址 | 264312山東省威海市榮成市石核路9號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及氣體濕度測(cè)量的技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高溫氣體濕度測(cè)量的取樣裝置，包括散熱組件，散熱組件設(shè)置在被測(cè)系統(tǒng)的取樣管和檢測(cè)設(shè)備的水分探頭之間，適于降低所述取樣管進(jìn)入所述水分探頭的氣體溫度。本實(shí)用新型能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中的高溫氣體造成水分探頭損壞的缺陷。 |
