用于測量偏振模色散矢量的方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810242151.2 申請日 -
公開（公告）號 CN101476975B 公開（公告）日 2010-09-29
申請公布號 CN101476975B 申請公布日 2010-09-29
分類號 G01M11/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉健;周俊強;董暉;黃治家 申請（專利權(quán)）人 深圳威誼光通技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 深圳市杰普特電子技術(shù)有限公司;深圳市杰普特光電股份有限公司
地址 518109 廣東省深圳市寶安區(qū)龍華鎮(zhèn)和平東路中國振華工業(yè)園5樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了用于測量偏振模色散矢量的方法，包括以下步驟：使指定波長的光分別按照三種輸入偏振態(tài)通過待測器件，三種輸入偏振態(tài)滿足線性無關(guān)；分別測量光通過待測器件后的三種輸出偏振態(tài)，將三種輸入偏振態(tài)和三種輸出偏振態(tài)記錄為一組計算數(shù)據(jù)；重復(fù)上述步驟，記錄多個不同指定波長下的多組計算數(shù)據(jù)；和根據(jù)各組計算數(shù)據(jù)計算各指定波長下的米勒矩陣，并根據(jù)米勒矩陣計算待測器件的偏振模色散矢量。本發(fā)明還公開了采用該方法的測量裝置。本發(fā)明能使測量過程中由波長和輸入偏振態(tài)的調(diào)節(jié)而引入的誤差降低，提高偏振模色散矢量的測量精度。