一種探測(cè)器非均勻性退化修復(fù)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201611145096.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106768385B 公開（公告）日 2019-04-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN106768385B 申請(qǐng)公布日 2019-04-16
分類號(hào) G01J5/20（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 毛貴超; 張志恒 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 航天光電科技發(fā)展（天津）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中國兵器工業(yè)集團(tuán)公司專利中心 代理人 天津津航技術(shù)物理研究所;航天光電科技發(fā)展（天津）有限公司
地址 300308 天津市東麗區(qū)空港經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)中環(huán)西路58號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于紅外成像技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種探測(cè)器非均勻性退化修復(fù)方法。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的目的在于提供一種由于探測(cè)器響應(yīng)漂移引起的非均勻性退化修復(fù)方法，具體涉及非均勻性校正技術(shù)、探測(cè)器響應(yīng)固定偏置去除技術(shù)和探測(cè)器積分時(shí)間歸一化校正技術(shù)，通過計(jì)算去除探測(cè)器響應(yīng)固定偏置的積分時(shí)間歸一化非均勻性校正參數(shù)，去除了探測(cè)器響應(yīng)漂移對(duì)校正參數(shù)的影響，探測(cè)器每次上電后計(jì)算有探測(cè)器漂移引起的固定偏置，校正過程中去除得到的探測(cè)器固定偏置，采用積分時(shí)間歸一化校正算法進(jìn)行實(shí)時(shí)校正，積分時(shí)間切換時(shí)采用預(yù)校正方法修復(fù)其他積分時(shí)間存在的非均勻性退化。