一種有機(jī)光電材料分子取向的表征方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810273081.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN108535198B 公開（公告）日 2021-11-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN108535198B 申請(qǐng)公布日 2021-11-23
分類號(hào) G01N21/25（2006.01）I;G01N21/31（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉世元;谷洪剛;張傳雄;牛茂剛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 武漢頤光科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢東喻專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 方可
地址 430074湖北省武漢市高新大道999號(hào)未來科技城C2座2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種有機(jī)光電材料分子取向的表征方法，通過建立待測(cè)樣品的光學(xué)模型，根據(jù)光學(xué)模型中各層薄膜的特征矩陣建立待測(cè)樣品的薄膜傳輸矩陣；通過構(gòu)建待測(cè)樣品材料的介電函數(shù)模型并對(duì)其進(jìn)行參數(shù)化以獲取待測(cè)樣品的光學(xué)常數(shù)，根據(jù)光學(xué)常數(shù)和薄膜傳輸矩陣計(jì)算得到待測(cè)樣品的理論穆勒矩陣光譜并通過迭代算法將理論穆勒矩陣光譜和測(cè)量穆勒矩陣光譜擬合，提取出樣品的消光系數(shù)，根據(jù)構(gòu)建的待測(cè)樣品的分子取向與消光系數(shù)之間的關(guān)系模型計(jì)算得到待測(cè)樣品的分子取向；本發(fā)明通過建立一種通用的分析方法對(duì)通過穆勒矩陣橢偏儀測(cè)量獲得的4×4階穆勒矩陣進(jìn)行計(jì)算分析以獲得光電材料的分子取向，適用于有機(jī)光電器件中有機(jī)分子取向度的快速準(zhǔn)確標(biāo)定。