測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811237642.8 申請日 -
公開（公告）號 CN111090575B 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN111090575B 申請公布日 2021-07-30
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 王春宇 申請（專利權(quán)）人 億度慧達教育科技（北京）有限公司
代理機構(gòu) 北京合智同創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李杰;蘭淑鐸
地址 100144北京市石景山區(qū)八大處高科技園區(qū)6-C號地3號樓429室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種測試方法,屬于計算機技術(shù)領(lǐng)域。測試方法包括：獲取待測試的系統(tǒng)調(diào)用接口的信息；根據(jù)系統(tǒng)調(diào)用接口的信息，按照設(shè)定的生成規(guī)則，生成用于對系統(tǒng)調(diào)用接口進行測試的測試模板，其中，測試模板中包含有用于對系統(tǒng)調(diào)用接口進行調(diào)用測試的測試指令；通過測試服務(wù)器將測試模板發(fā)送至至少一個待測設(shè)備，指示各個待測設(shè)備根據(jù)測試模板中的測試指令對本地的系統(tǒng)調(diào)用接口進行調(diào)用測試。由此，一方面，可以系統(tǒng)地生成待測試的所有系統(tǒng)調(diào)用接口的測試指令；另一方面，對于需要測試的多個待測設(shè)備，可以使用同一測試模板進行本地的多個系統(tǒng)調(diào)用接口的測試，實現(xiàn)了待測設(shè)備系統(tǒng)調(diào)用接口的批量化測試，從而有效提高了系統(tǒng)調(diào)用接口的測試效率。