一種測試方法、裝置、系統(tǒng)及計算機可讀存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010857074.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114088108A | 公開(公告)日 | 2022-02-25 |
申請公布號 | CN114088108A | 申請公布日 | 2022-02-25 |
分類號 | G01C25/00(2006.01)I;G01C5/06(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 林淵;楊業(yè)明;郭悅;尹偉偉;權(quán)曉蕾;陳留濤;王明東 | 申請(專利權(quán))人 | 航天科工慣性技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 100074北京市豐臺區(qū)海鷹路1號院2號樓3層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種測試方法、裝置、系統(tǒng)及計算機可讀存儲介質(zhì),所述方法包括:獲取所述待測儀器的數(shù)量N;當N>P時,將所述測試設(shè)備配置為第一連接關(guān)系,P為一臺所述測試設(shè)備中第一串口的數(shù)量;其中,所述第一連接關(guān)系為:第一測試設(shè)備與外部設(shè)備通信連接以對外部設(shè)備進行配置,第二測試設(shè)備與所述第一測試設(shè)備通信連接以接收所述第一測試設(shè)備反饋的所述外部設(shè)備的狀態(tài)信息;基于所述第一連接關(guān)系令所述第一測試設(shè)備以及第二測試設(shè)備獲得并處理所述待測儀器的測試數(shù)據(jù)。本發(fā)明的方法可以測試一個或多個儀器的測試方法,測試人員可以根據(jù)測試需求靈活的擴展待測儀器的數(shù)量,且不會增加通道數(shù)量及影響計算機處理速度。 |
