一種閃存測(cè)試方法、可編程邏輯器件、存儲(chǔ)介質(zhì)和系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210388634.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114664371A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-06-24 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114664371A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-24 |
分類號(hào) | G11C29/56(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I | 分類 | 信息存儲(chǔ); |
發(fā)明人 | 吳佳;李禮;吳葉楠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海威固信息技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海塔科專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 201799上海市青浦區(qū)高涇路599號(hào)1幢2層208室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種閃存測(cè)試方法、可編程邏輯器件、存儲(chǔ)介質(zhì)和系統(tǒng),所述方法包括如下步驟:獲取待測(cè)試固態(tài)硬盤中閃存存儲(chǔ)位置的初始數(shù)據(jù);將所述初始數(shù)據(jù)輸入人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);運(yùn)行所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)并刷新所述閃存存儲(chǔ)位置的數(shù)據(jù);對(duì)比所述刷新數(shù)據(jù)與所述運(yùn)行過(guò)程數(shù)據(jù);記錄數(shù)據(jù)對(duì)比不一致的閃存存儲(chǔ)位置以及所述閃存存儲(chǔ)位置的對(duì)比次數(shù)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)閃存存儲(chǔ)位置的可靠性測(cè)試,根據(jù)記錄不一致的閃存存儲(chǔ)位置以及所述閃存存儲(chǔ)位置的比對(duì)次數(shù)來(lái)計(jì)算和認(rèn)定不可修復(fù)的錯(cuò)誤比特率、原始比特錯(cuò)誤率和平均故障間隔時(shí)間。 |
