一種閃存測試方法、可編程邏輯器件、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210388634.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114664371A 公開（公告）日 2022-06-24
申請公布號 CN114664371A 申請公布日 2022-06-24
分類號 G11C29/56（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 吳佳;李禮;吳葉楠 申請（專利權(quán)）人 上海威固信息技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 上海塔科專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 201799上海市青浦區(qū)高涇路599號1幢2層208室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種閃存測試方法、可編程邏輯器件、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)，所述方法包括如下步驟：獲取待測試固態(tài)硬盤中閃存存儲位置的初始數(shù)據(jù)；將所述初始數(shù)據(jù)輸入人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)；運行所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)并刷新所述閃存存儲位置的數(shù)據(jù)；對比所述刷新數(shù)據(jù)與所述運行過程數(shù)據(jù)；記錄數(shù)據(jù)對比不一致的閃存存儲位置以及所述閃存存儲位置的對比次數(shù)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對閃存存儲位置的可靠性測試，根據(jù)記錄不一致的閃存存儲位置以及所述閃存存儲位置的比對次數(shù)來計算和認定不可修復(fù)的錯誤比特率、原始比特錯誤率和平均故障間隔時間。