一種真空測漏裝置和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111266750.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114061836A 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN114061836A 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01M3/02（2006.01）I;G01M3/36（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張淳;施陳博;陶凱;高曉宇;宋允亮;劉玉平 申請（專利權(quán)）人 山東明佳科技有限公司
代理機構(gòu) 北京眾達(dá)德權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉杰
地址 266590山東省青島市黃島區(qū)前灣港路579號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種真空測漏裝置和方法。裝置包括吸附組件、圖像獲取組件和圖像分析組件。吸附組件包括第一吸附部和第二吸附部，待測真空包裝物經(jīng)過吸附組件時，第一吸附部產(chǎn)生吸附力以使真空包裝物的第一表面吸附于第一吸附部、第二吸附部下降并吸附真空包裝物的第二表面以完成對真空包裝物的第二表面吸附及上拉動作；圖像獲取組件設(shè)置在吸附組件的一側(cè)，圖像獲取組件用于獲取經(jīng)吸附組件后的真空包裝物的圖像信息；圖像分析組件連接于所述圖像處理組件，圖像分析組件根據(jù)圖像獲取組件獲取的真空包裝物的圖像信息與完整真空包裝物的圖像信息進(jìn)行比對，以判斷真空包裝物是否漏氣。本發(fā)明實施例的真空測漏裝置和方法檢測速度快且效率高。