一種雙天線的電磁干擾測試方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510176725.0 申請日 -
公開（公告）號 CN104777381B 公開（公告）日 2018-03-27
申請公布號 CN104777381B 申請公布日 2018-03-27
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏延全;林幸筍 申請（專利權）人 深圳市鈦和巴倫技術股份有限公司
代理機構 深圳市愛迪森知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 深圳市巴倫檢測技術有限公司;深圳市巴倫技術股份有限公司
地址 518055 廣東省深圳市南山區(qū)沙河西路白沙科技產業(yè)園1樓B區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及電磁干擾測試技術領域，本發(fā)明實施例提供了一種雙天線的電磁干擾測試方法，包括水平方向極化的天線A、垂直方向極化的天線B、開關矩陣和EMI接收機，所述方法包括：控制所述開關矩陣分別連接其雙進端口A和端口B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關矩陣的雙出端口C和端口D到所述EMI接收機的信號輸入端口；控制所述雙進開關矩陣，導通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收機上能夠分別顯示水平方向極化的天線A和垂直方向極化的天線B接收到的信號。本發(fā)明實施例利用了兩根接收天線來同時測量水平和垂直方向的干擾信號，以及開關矩陣，解決了因為更換天線極化方向造成的雙倍測量時間，極大的提高了測量效率。