一種基于非均勻場磁共振系統(tǒng)的表觀擴散系數(shù)測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010187915.3 申請日 -
公開（公告）號 CN111351813B 公開（公告）日 2021-09-24
申請公布號 CN111351813B 申請公布日 2021-09-24
分類號 G01N24/08;G01N13/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳子岳;羅海;陳瀟;葉洋 申請（專利權(quán)）人 無錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司
代理機構(gòu) 成都高遠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李安霞;李佳龍
地址 214000 江蘇省無錫市新吳區(qū)弘毅路8號金帛座705室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于非均勻場磁共振系統(tǒng)的表觀擴散系數(shù)測量方法，基于一個非均勻場核磁共振系統(tǒng)，包括非均勻場磁體，核磁共振譜儀，射頻功放和射頻線圈等，通過多個具有不同回波間隔的CPMG序列采集信號，從多組信號中擬合出ADC系數(shù)。該方法不需要復(fù)雜的擴散加強序列，算法簡單，且對系統(tǒng)要求低，可以降低系統(tǒng)成本。同時，本發(fā)明方法算法穩(wěn)定，不易受流動液體影響，對于T1/T2較小的物質(zhì)同樣適用。