一種橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)的校正測量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場磁共振系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011242388.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112462311B 公開（公告）日 2021-06-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN112462311B 申請(qǐng)公布日 2021-06-15
分類號(hào) G01R33/46（2006.01）I;G01R33/48（2006.01）I;G01R33/56（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘子異;張潔瑩;王偉謙;吳子岳;葉洋 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 無錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都頂峰專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 楊國瑞
地址 214000江蘇省無錫市新吳區(qū)弘毅路8號(hào)金帛座705室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及核磁共振成像技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)的校正測量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場磁共振系統(tǒng)，可以在具有極不均勻的磁場或者是無法實(shí)現(xiàn)極短的回波時(shí)間的核磁共振系統(tǒng)中，通過獲取的多個(gè)施加不同b值的SE?CPMG序列采集的回波信號(hào)，先擬合出ADC?T2二維圖譜，然后對(duì)橫向磁化矢量衰減時(shí)間常數(shù)T2做校正，如此可避免由于擴(kuò)散造成的T2測量值偏小問題。此外，可進(jìn)一步基于校正的T2測量值獲得較為準(zhǔn)確的ADC?T2二維圖譜，確保T2值測量不受回波時(shí)間和分子擴(kuò)散的影響，且對(duì)系統(tǒng)要求低，可以降低系統(tǒng)成本。