一種ADC-T2二維圖譜的測(cè)量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場(chǎng)磁共振系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011241126.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN112415454B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-08-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112415454B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-03 |
分類號(hào) | G01R33/54(2006.01)I;G01R33/50(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 張潔瑩;潘子異;王偉謙;吳子岳;葉洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 無(wú)錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 成都頂峰專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 楊國(guó)瑞 |
地址 | 214000江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)弘毅路8號(hào)金帛座705室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及核磁共振成像技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種ADC?T2二維圖譜的測(cè)量方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及非均勻場(chǎng)磁共振系統(tǒng),可以在具有極不均勻的磁場(chǎng)或者是無(wú)法實(shí)現(xiàn)極短的回波時(shí)間的核磁共振系統(tǒng)中,通過(guò)獲取的多個(gè)采用不同回波間隔的CPMG序列采集的回波信號(hào),從多組回波信號(hào)中擬合出ADC系數(shù)和T2值,從而能測(cè)量出ADC?T2圖譜,使得不再需要復(fù)雜的擴(kuò)散加權(quán)序列,具有算法簡(jiǎn)單且對(duì)系統(tǒng)要求低的優(yōu)點(diǎn),可以降低對(duì)對(duì)譜儀設(shè)備、射頻功放和射頻線圈等硬件系統(tǒng)的成本。同時(shí)所述測(cè)量方法還具有算法穩(wěn)定的特點(diǎn),不易受流動(dòng)液體影響,對(duì)于T1/T2較小的物質(zhì)同樣適用。 |
