一種橫向磁化矢量衰減時間常數(shù)的校正測量方法、裝置、計算機設(shè)備及非均勻場磁共振系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011242388.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112462311A 公開（公告）日 2021-06-15
申請公布號 CN112462311A 申請公布日 2021-06-15
分類號 G01R33/46;G01R33/48;G01R33/56 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘子異;張潔瑩;王偉謙;吳子岳;葉洋 申請（專利權(quán)）人 無錫鳴石峻致醫(yī)療科技有限公司
代理機構(gòu) 成都頂峰專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 楊國瑞
地址 214000 江蘇省無錫市新吳區(qū)弘毅路8號金帛座705室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及核磁共振成像技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種橫向磁化矢量衰減時間常數(shù)的校正測量方法、裝置、計算機設(shè)備及非均勻場磁共振系統(tǒng)，可以在具有極不均勻的磁場或者是無法實現(xiàn)極短的回波時間的核磁共振系統(tǒng)中，通過獲取的多個施加不同b值的SE?CPMG序列采集的回波信號，先擬合出ADC?T2二維圖譜，然后對橫向磁化矢量衰減時間常數(shù)T2做校正，如此可避免由于擴散造成的T2測量值偏小問題。此外，可進一步基于校正的T2測量值獲得較為準(zhǔn)確的ADC?T2二維圖譜，確保T2值測量不受回波時間和分子擴散的影響，且對系統(tǒng)要求低，可以降低系統(tǒng)成本。