校準系統(tǒng)和校準方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711444495.7 申請日 -
公開（公告）號 CN109974763B 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN109974763B 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01D18/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝逢春;鄧穎聰;張丹丹;胡綠海;劉云;魯異;吳海東;肖輝 申請（專利權(quán)）人 泰科電子（上海）有限公司
代理機構(gòu) 中科專利商標代理有限責任公司 代理人 汪洋
地址 200131上海市浦東新區(qū)（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)英倫路999號15幢一層F、G部位
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種校準系統(tǒng)，包括：電阻檢測儀，適于檢測電子器件的電阻；第一容器，容納有適于蝕刻引線的蝕刻溶液；和加熱器，適于加熱電子器件。當電阻檢測儀檢測到的電子器件在第一溫度時的第一電阻在第一預(yù)定范圍以內(nèi)時，利用加熱器將電子器件加熱到高于第一溫度的第二溫度，并利用電阻檢測儀檢測電子器件在第二溫度時的第二電阻，如果檢測到的第二電阻在第二預(yù)定范圍之外時，利用蝕刻溶液對引線進行蝕刻，以調(diào)節(jié)電子器件的電阻值，直至電子器件在第二溫度時的第二電阻在第二預(yù)定范圍以內(nèi)，使得電子器件的電阻滿足預(yù)定的精度要求。本發(fā)明降低了電子器件的制造難度，同時還能夠降低廢品率，節(jié)約制造成本。