一種通用的芯片測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010414915.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111487524B | 公開（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111487524B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-11 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 程景全;宿曉鋒;郭婷;武建宏 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海華力微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 曹廷廷 |
| 地址 | 201315上海市浦東新區(qū)良騰路6號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種通用的芯片測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法及存儲(chǔ)介質(zhì)。芯片測(cè)試系統(tǒng)包括主控裝置、測(cè)試主板、N個(gè)子板連接件，若干個(gè)測(cè)試子板以及若干個(gè)測(cè)試套件。測(cè)試主板與主控裝置、測(cè)試套件及測(cè)試子板連接；測(cè)試子板和測(cè)試套件匹配，測(cè)試子板和測(cè)試主板通過(guò)子板連接件連接。本發(fā)明提供的一種通用的芯片測(cè)試系統(tǒng)能夠快速準(zhǔn)確地對(duì)芯片設(shè)計(jì)前后的功能和性能進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試，可以滿足芯片制造前的功能驗(yàn)證、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試的測(cè)試任務(wù)，而且該系統(tǒng)為模塊化設(shè)計(jì)可擴(kuò)展性強(qiáng)、能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化。 |
