一種利用單端口阻抗和靈敏度測(cè)量耦合線圈參數(shù)的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510992969.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105653848A 公開（公告）日 2016-06-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN105653848A 申請(qǐng)公布日 2016-06-08
分類號(hào) G06F19/00(2011.01)I;G01R27/02(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 陳希有;周宇翔;牟憲民;李冠林;張澤然 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 國(guó)核吉林核電有限公司
代理機(jī)構(gòu) 大連理工大學(xué)專利中心 代理人 大連理工大學(xué);中電投吉林核電有限公司
地址 116024 遼寧省大連市甘井子區(qū)凌工路2號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種利用單端口阻抗和靈敏度測(cè)量耦合線圈參數(shù)的方法，屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明首先使用簡(jiǎn)單的阻抗分析儀，只對(duì)耦合線圈中的一個(gè)端口進(jìn)行測(cè)量，并且該耦合線圈可以處于導(dǎo)電介質(zhì)中或空氣介質(zhì)中。測(cè)量的項(xiàng)目是該端口在不同頻率下的等效復(fù)阻抗。然后再以模型中的參數(shù)為尋優(yōu)變量，以測(cè)試的阻抗與計(jì)算的阻抗誤差為目標(biāo)函數(shù)，建立優(yōu)化問(wèn)題數(shù)學(xué)模型。利用本發(fā)明提出的分析靈敏度的簡(jiǎn)便方法，計(jì)算目標(biāo)函數(shù)的尋優(yōu)方向。通過(guò)尋找目標(biāo)函數(shù)的最小值，辨識(shí)出耦合線圈模型中的全部參數(shù)，包括存在導(dǎo)電介質(zhì)時(shí)的模型參數(shù)。