全自動測阻儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111364768.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114082679A 公開（公告）日 2022-02-25
申請公布號 CN114082679A 申請公布日 2022-02-25
分類號 B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I;B65G47/91（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 王忠生;姚家興;朱堅生;王巖柏 申請（專利權(quán)）人 佛山中科燦光微電子設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 長春吉大專利代理有限責(zé)任公司 代理人 王淑秋
地址 528299廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道夏南路12號天富科技城3棟3樓302
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種全自動測阻儀，該測阻儀的大理石平臺固定在機(jī)架上；上料與收料機(jī)構(gòu)固定在機(jī)架上并位于大理石平臺的左側(cè)；大理石平臺上設(shè)置二維驅(qū)動機(jī)構(gòu)；電阻基板定位夾持裝置設(shè)置在二維驅(qū)動機(jī)構(gòu)的可移動部件上；探卡總成安裝在大理石平臺的右部；搬運機(jī)構(gòu)帶有吸盤的機(jī)械手，可將電阻基板由上料與收料機(jī)構(gòu)抓取搬運至電阻基板定位夾持裝置上方；電阻基板定位夾持裝置可對電阻基板進(jìn)行夾持定位，并在二維驅(qū)動機(jī)構(gòu)驅(qū)動下移動到探卡總成下方；探卡總成中，探卡可向下移動至與電阻基板上待測貼片電阻接觸。本發(fā)明主要應(yīng)用于電阻基板上貼片電阻阻值的測量，能夠滿足微型化和高密度的測量要求。