電源設(shè)備老化測試柜
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111683061.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114487896A | 公開(公告)日 | 2022-05-13 |
申請公布號 | CN114487896A | 申請公布日 | 2022-05-13 |
分類號 | G01R31/40(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陳雄偉;鄧勇明 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市馳普科達科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市恒程創(chuàng)新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)燕羅街道燕川社區(qū)紅湖東路西側(cè)嘉達工業(yè)園5棟廠房601、701、801 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種電源設(shè)備老化測試柜,該電源設(shè)備老化測試柜包括:柜體,所述柜體設(shè)有多個測試區(qū),多個所述測試區(qū)用于放置多個待測電源設(shè)備;測試組件,所述測試組件設(shè)置于所述柜體上,所述測試組件具有用于消耗待測電源設(shè)備電能的耗電負載,所述測試組件用于接入待測電源設(shè)備,以獲取待測電源設(shè)備的電氣參數(shù),并輸出對應(yīng)的測試信息。本發(fā)明可以解決現(xiàn)有老化測試設(shè)備實用性差的問題。 |
