低功耗功率MOS場效應(yīng)管
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022570687.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213988890U | 公開(公告)日 | 2021-08-17 |
申請公布號 | CN213988890U | 申請公布日 | 2021-08-17 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 黃彥智;俞仲威 | 申請(專利權(quán))人 | 開泰半導(dǎo)體(深圳)有限公司 |
代理機構(gòu) | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 王健 |
地址 | 518000廣東省深圳市坪山區(qū)坪山街道六聯(lián)社區(qū)坪山大道2007號創(chuàng)新廣場B1404 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開一種低功耗功率MOS場效應(yīng)管,包括:P型基體層、輕摻雜N型漂移層、重?fù)诫sN型襯底層,重?fù)诫sN型源極區(qū)上表面開有一凹槽,一絕緣介質(zhì)層覆蓋所述溝槽和柵極多晶硅部上表面并延伸覆蓋凹槽一部分,一源極金屬層覆蓋于重?fù)诫sN型源極區(qū)上表面并延伸覆蓋重?fù)诫sN型源極區(qū)的凹槽剩余部分;溝槽內(nèi)間隔設(shè)置有第一柵極多晶硅部、第二柵極多晶硅部,此第一柵極多晶硅部位于第二柵極多晶硅部正上方,所述第一柵極多晶硅部、第二柵極多晶硅部與溝槽之間設(shè)置有第一柵極氧化隔離層。本實用新型低功耗功率MOS場效應(yīng)管提高了重?fù)诫sN型源極區(qū)與源極金屬層、絕緣介質(zhì)層的結(jié)合力,并改善了MOS器件開關(guān)損耗。 |
