使用于沉積室的載環(huán)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911021514.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112708871A | 公開(公告)日 | 2021-04-27 |
申請公布號 | CN112708871A | 申請公布日 | 2021-04-27 |
分類號 | C23C16/458;C23C16/513 | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 李敏福 | 申請(專利權(quán))人 | 聯(lián)芯集成電路制造(廈門)有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人 | 陳小雯 |
地址 | 361100 福建省廈門市翔安區(qū)萬家春路899號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種使用于沉積室的載環(huán),其包含一環(huán)狀盤體,包含一環(huán)狀晶片支撐區(qū)、一環(huán)狀周邊區(qū),以及一環(huán)狀過渡區(qū),介于所述環(huán)狀晶片支撐區(qū)和所述環(huán)狀周邊區(qū)之間。所述環(huán)狀周邊區(qū)包含一載環(huán)上表面,所述環(huán)狀晶片支撐區(qū)具有一較低載環(huán)表面,其在一晶片載送過程中與一晶片直接接觸,以及所述環(huán)狀過渡區(qū)包含一斜面,介于所述載環(huán)上表面和所述較低載環(huán)表面之間。所述斜面從所述載環(huán)上表面朝所述較低載環(huán)表面向下傾斜。 |
