一種新型圖形復合對位靶標及HDI板
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110449807.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113163580A | 公開(公告)日 | 2021-07-23 |
申請公布號 | CN113163580A | 申請公布日 | 2021-07-23 |
分類號 | H05K1/02 | 分類 | 其他類目不包含的電技術; |
發(fā)明人 | 孟昭光;趙南清;蔡志浩;曾國權 | 申請(專利權)人 | 東莞市五株電子科技有限公司 |
代理機構 | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 張建 |
地址 | 523000 廣東省東莞市石碣鎮(zhèn)劉屋科技中路161號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種新型圖形復合對位靶標及HDI板,包括環(huán)形的對位盲孔,在對位盲孔的中間開設有對位通孔,對位通孔和對位盲孔共中心點;對位通孔的外邊界與對位盲孔的內(nèi)邊界之間形成有環(huán)形的線路圖形,線路圖形的外邊界與對位盲孔的內(nèi)邊界連接,線路圖形的內(nèi)邊界與對位通孔的外邊界之間被蝕刻移除。本發(fā)明在對位靶標中不僅同時融合了對位盲孔和對位通孔,還融合了環(huán)形的線路圖形,可以先同時抓取對位通孔和對位盲孔兩種對位靶標,以平衡兩種孔型所帶來的對位偏差,提升圖形對位效率,再進一步抓取環(huán)形的線路圖形,通過將線路圖形分別與對位通孔和對位盲孔進行對準度檢查,進一步提升圖形對位精度和準確度,提升圖形對位效率。 |
