一種HDI盲孔板測試結(jié)構(gòu)及HDI盲孔板
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110449804.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113163591A | 公開(公告)日 | 2021-07-23 |
申請公布號 | CN113163591A | 申請公布日 | 2021-07-23 |
分類號 | H05K1/11;H05K3/46 | 分類 | 其他類目不包含的電技術(shù); |
發(fā)明人 | 孟昭光;趙南清;蔡志浩;曾國權(quán) | 申請(專利權(quán))人 | 東莞市五株電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張建 |
地址 | 523000 廣東省東莞市石碣鎮(zhèn)劉屋科技中路161號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種HDI盲孔板測試結(jié)構(gòu)及HDI盲孔板,包括第一層板、第二層板和第三層板。第一層板上設(shè)有第一檢測區(qū),第一檢測區(qū)設(shè)有通孔和多個間隔分布的具有相同半徑的偏位檢測環(huán)PAD。第二層板上設(shè)有第二檢測區(qū),第二檢測區(qū)上設(shè)有第一銅皮,第一銅皮上設(shè)有多個間隔分布的具有不同半徑的盲孔。第三層板上設(shè)有第三檢測區(qū),第三檢測區(qū)上設(shè)有多個間隔分布的第二銅皮。多個第二銅皮、多個盲孔與多個偏位檢測環(huán)PAD三者分別一一對應(yīng),通孔和第一銅皮對應(yīng),偏位檢測環(huán)PAD的半徑小于盲孔的半徑。本發(fā)明可以通過萬用表等儀器檢測通孔與各個偏位檢測環(huán)PAD之間的導(dǎo)通性,以此實現(xiàn)盲孔偏位檢測的目的,提高了檢測精度和準(zhǔn)確性。 |
