二維表層模型構(gòu)建方法及獲得二維測(cè)線控制點(diǎn)的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711124865.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107894614B 公開（公告）日 2020-02-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN107894614B 申請(qǐng)公布日 2020-02-14
分類號(hào) G01V1/28 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 耿春;李亞林;敬龍江;羅文;黃衛(wèi)華;孫偉鵬;田祥平;黎書琴;蔡力 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國(guó)石油集團(tuán)川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司
代理機(jī)構(gòu) 成都中璽知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 中國(guó)石油集團(tuán)川慶鉆探工程有限公司;中國(guó)石油天然氣集團(tuán)公司;中國(guó)石油集團(tuán)川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司;中國(guó)石油天然氣集團(tuán)有限公司;中國(guó)石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司
地址 610213 四川省成都市雙流縣華陽(yáng)鎮(zhèn)華陽(yáng)大道一段一號(hào)1-4
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種二維表層模型構(gòu)建方法及獲得二維測(cè)線控制點(diǎn)的方法。所述模型構(gòu)建方法包括：求取二維測(cè)線網(wǎng)中第一、二測(cè)線的控制點(diǎn)；利用控制點(diǎn)建模，得二維表層模型。求取控制點(diǎn)的步驟包括：對(duì)第一、二測(cè)線分別進(jìn)行拐點(diǎn)搜索處理，得第一、二測(cè)線拐點(diǎn)；利用第一、二測(cè)線拐點(diǎn)，得第一、二測(cè)線的交點(diǎn)；分別求取第一、二測(cè)線上所述交點(diǎn)的成果，進(jìn)行平均處理，得第一測(cè)線與第二測(cè)線共用的交點(diǎn)成果，作為控制點(diǎn)。本發(fā)明能夠根據(jù)測(cè)線拐點(diǎn)，快速、準(zhǔn)確計(jì)算二維測(cè)線的交點(diǎn)，為表層模型的統(tǒng)一構(gòu)建打下基礎(chǔ)；計(jì)算精度高，且計(jì)算效率比傳統(tǒng)方法具有顯著的提高；能夠?qū)崿F(xiàn)交點(diǎn)處的模型閉合，滿足二維表層模型精確建模的需求。