一種平面型VDMOS器件雙柵極結(jié)構(gòu)的制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210051895.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114373676A | 公開(公告)日 | 2022-04-19 |
申請公布號 | CN114373676A | 申請公布日 | 2022-04-19 |
分類號 | H01L21/28(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 顧昀浦;黃健;孫閆濤;張楠;宋躍樺;劉靜;吳平麗 | 申請(專利權(quán))人 | 捷捷微電(上海)科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州京諾知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 于睿虬 |
地址 | 201306上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)南匯新城鎮(zhèn)海洋一路333號1號樓、2號樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種平面型VDMOS器件雙柵極結(jié)構(gòu)的制作方法,在外延層表面形成ONO結(jié)構(gòu);在第二氧化層上方設(shè)置第一掩膜,第一掩膜的設(shè)置位置與雙柵極的位置相匹配;在第一掩膜下方留有的第二氧化層為雙柵極間隔氧化層;在第二氧化層和雙柵極間隔氧化層上方淀積多晶硅;回刻多晶硅,使雙柵極間隔氧化層的表面外露,在雙柵極間隔氧化層的兩側(cè)留有多晶硅側(cè)墻,多晶硅側(cè)墻為平面型VDMOS器件的雙柵極結(jié)構(gòu)。本發(fā)明的雙柵極間隔氧化層在雙柵極結(jié)構(gòu)形成之前,先填充了雙柵極之間的間隔區(qū)域,能夠精確控制雙柵極結(jié)構(gòu)的位置,還能夠?qū)崿F(xiàn)體區(qū)注入成型的自對準,節(jié)省了工藝步驟,節(jié)約了成本。 |
