一種半導體功率器件結構及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111513373.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113921614A | 公開(公告)日 | 2022-01-11 |
申請公布號 | CN113921614A | 申請公布日 | 2022-01-11 |
分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張楠;黃健;孫閆濤;顧昀浦;宋躍樺;劉靜;吳平麗 | 申請(專利權)人 | 捷捷微電(上海)科技有限公司 |
代理機構 | 廣州京諾知識產權代理有限公司 | 代理人 | 于睿虬 |
地址 | 201306上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿易試驗區(qū)臨港新片區(qū)南匯新城鎮(zhèn)海洋一路333號1號樓、2號樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種半導體功率器件結構及其制造方法,包括襯底、外延層及若干溝槽,在溝槽內,柵極多晶硅的上端還設置有絕緣層;溝槽的外壁處設置有第二導電類型的體區(qū),體區(qū)的表面設置有第一導電類型的源極區(qū),以及第二導電類型的體接觸區(qū);在外延層的表面還覆蓋有一阻擋層,在阻擋層的表面設置有金屬層,相鄰兩個溝槽的體區(qū)之間形成寄生肖特基區(qū)域。本發(fā)明的寄生肖特基在每個器件元胞單元內,不需要額外增加器件的面積,能夠使得VFSD更低,改善反向恢復的Trr,在電壓反偏時,體區(qū)與外延層橫向耗盡,形成空間電荷會將寄生肖特基表面保護起來,從而提高耐壓、降低肖特漏電。 |
