ATE測試板及ATE測試板的制造方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110540231.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113267659A 公開（公告）日 2021-08-17
申請公布號 CN113267659A 申請公布日 2021-08-17
分類號 G01R3/00（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王琪;袁凱華 申請（專利權(quán)）人 上海澤豐半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 郭桂峰
地址 200233上海市徐匯區(qū)田州路159號15單元1302室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了ATE測試板及ATE測試板的制造方法，ATE測試板包括：第一線路板層，包括第一線路層、第二線路層以及第一芯板，第一線路層、第一芯板以及第二線路層相互疊層設(shè)置，并且第一芯板位于第一線路層和第二線路層之間；第二線路板層，包括第三線路層、第四線路層以及第二芯板，第三線路層、第二芯板以及第四線路層相互疊層設(shè)置，并且第二芯板位于第三線路層和第四線路層之間；第一研磨層，第一線路板層和第二線路板層相互疊層設(shè)置，第一研磨層位于第二線路層和第三線路層之間。其通過更換平整度的研磨層來實現(xiàn)平整度和外層阻抗的同時控制，避免了顧此失彼，兩者不可兼得的困境，有效地改善了仿真和設(shè)計上的選擇困難性。