存儲器測試方法、設(shè)備及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210284781.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114649051A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114649051A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 崔榮熏;錢黃生;劉金海 申請（專利權(quán)）人 合肥悅芯半導(dǎo)體科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 230000安徽省合肥市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)宿松路3963號智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及存儲器的設(shè)計與制造領(lǐng)域，具體而言，涉及一種存儲器測試方法、設(shè)備及系統(tǒng)。本申請實施例提供的存儲器測試方法，包括：根據(jù)上位機發(fā)送的測試方式指示信息，生成目標存儲區(qū)域中每個存儲位對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，目標存儲區(qū)域位于被測存儲器中；針對目標存儲區(qū)域中的每個存儲位，將存儲位對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)寫入存儲位中；從目標存儲區(qū)域中的每個存儲位中讀取實際數(shù)據(jù)；對目標存儲區(qū)域中每個存儲位對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)和實際數(shù)據(jù)進行對比，獲得地址失效測試結(jié)果。本申請實施例提供的存儲器測試方法能夠?qū)崿F(xiàn)被測存儲器的地址失效測試，且能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。