一種精度校正方法、裝置、系統(tǒng)以及精度校正設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210200506.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114267407B 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114267407B 申請公布日 2022-06-10
分類號 G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 曹圭大;劉金海 申請（專利權(quán)）人 合肥悅芯半導(dǎo)體科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 230000安徽省合肥市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)宿松路3963號智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┮环N精度校正方法、裝置、系統(tǒng)以及精度校正設(shè)備，該方法包括：完成每一測試信號的多次數(shù)據(jù)采集得到多次采集數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)采集由精度校正設(shè)備對測試設(shè)備的每一測試信號采集得到，或由測試設(shè)備采集精度校正設(shè)備輸出的每一測試信號得到，根據(jù)每一測試信號的多次采集數(shù)據(jù)確定每一測試信號的跳變時刻，跳變時刻為測試信號的電平由第一電平變?yōu)榈诙娖降臅r刻；根據(jù)每一測試信號的跳變時刻與采集時刻計算每一測試信號的時序差值；根據(jù)每一測試信號的時序差值計算每一測試信號對應(yīng)的時序補償值，以根據(jù)每一測試信號對應(yīng)的時序補償值對每一測試信號進行精度校正。