一種精度校正方法、裝置、系統(tǒng)以及精度校正設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210200506.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114267407B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-06-10 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114267407B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-10 |
| 分類(lèi)號(hào) | G11C29/56（2006.01）I | 分類(lèi) | 信息存儲(chǔ); |
| 發(fā)明人 | 曹圭大;劉金海 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 合肥悅芯半導(dǎo)體科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專(zhuān)利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 230000安徽省合肥市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)宿松路3963號(hào)智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N精度校正方法、裝置、系統(tǒng)以及精度校正設(shè)備，該方法包括：完成每一測(cè)試信號(hào)的多次數(shù)據(jù)采集得到多次采集數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)采集由精度校正設(shè)備對(duì)測(cè)試設(shè)備的每一測(cè)試信號(hào)采集得到，或由測(cè)試設(shè)備采集精度校正設(shè)備輸出的每一測(cè)試信號(hào)得到，根據(jù)每一測(cè)試信號(hào)的多次采集數(shù)據(jù)確定每一測(cè)試信號(hào)的跳變時(shí)刻，跳變時(shí)刻為測(cè)試信號(hào)的電平由第一電平變?yōu)榈诙娖降臅r(shí)刻；根據(jù)每一測(cè)試信號(hào)的跳變時(shí)刻與采集時(shí)刻計(jì)算每一測(cè)試信號(hào)的時(shí)序差值；根據(jù)每一測(cè)試信號(hào)的時(shí)序差值計(jì)算每一測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的時(shí)序補(bǔ)償值，以根據(jù)每一測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的時(shí)序補(bǔ)償值對(duì)每一測(cè)試信號(hào)進(jìn)行精度校正。 |
