轉(zhuǎn)換器芯片測試電路及系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210238785.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114624571A | 公開(公告)日 | 2022-06-14 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114624571A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-14 |
分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;G01R15/14(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 史新建;吉潤宰;魏俊杰;王少帥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 合肥悅芯半導(dǎo)體科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 230000安徽省合肥市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)宿松路3963號(hào)智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種轉(zhuǎn)換器芯片測試電路及系統(tǒng)。轉(zhuǎn)換器芯片測試電路中,邏輯控制單元用于在接收到上位機(jī)發(fā)送的數(shù)字波形測試數(shù)據(jù)之后,將數(shù)字波形測試數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)模轉(zhuǎn)換電路,數(shù)模轉(zhuǎn)換電路用于將數(shù)字波形測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬波形測試數(shù)據(jù),并將模擬波形測試數(shù)據(jù)發(fā)送給信號(hào)調(diào)理電路,信號(hào)調(diào)理電路用于在對(duì)模擬波形測試數(shù)據(jù)進(jìn)行信噪比提升之后,將模擬波形測試數(shù)據(jù)發(fā)送給目標(biāo)待測芯片,以供目標(biāo)待測芯片將模擬波形測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字波形測試反饋數(shù)據(jù),并發(fā)送給上位機(jī),上位機(jī)用于根據(jù)數(shù)字波形測試數(shù)據(jù)和數(shù)字波形測試反饋數(shù)據(jù),獲得目標(biāo)待測芯片的測試結(jié)果。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的轉(zhuǎn)換器芯片測試電路及系統(tǒng)能夠保證目標(biāo)待測芯片的測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。 |
