存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210280259.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114400042B 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114400042B 申請公布日 2022-06-10
分類號 G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 樸英斗;宋秀良;劉金海 申請（專利權(quán)）人 合肥悅芯半導(dǎo)體科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 230000安徽省合肥市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)宿松路3963號智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)，其中，主控器件用于對接收到的模式控制指令進(jìn)行解析，獲得引腳工作模式，并在引腳工作模式為直流參數(shù)測試模式時(shí)，將預(yù)設(shè)信號參數(shù)發(fā)送給電子引腳總陣列中包括的多個(gè)第一目標(biāo)電子引腳，針對多個(gè)第一目標(biāo)電子引腳中的每個(gè)第一目標(biāo)電子引腳，第一目標(biāo)電子引腳又用于按照預(yù)設(shè)信號參數(shù)自動(dòng)生成測試信號，將測試信號施加到被測存儲(chǔ)器上與第一目標(biāo)電子引腳對應(yīng)連接的目標(biāo)存儲(chǔ)器引腳，并接收目標(biāo)存儲(chǔ)器引腳輸出的測試反饋信號，將測試反饋信號發(fā)送給時(shí)序發(fā)生組件，時(shí)序發(fā)生組件則接收多個(gè)第一目標(biāo)電子引腳發(fā)送的多條測試反饋信號，用于獲得引腳直流參數(shù)測試結(jié)果，能夠保證被測存儲(chǔ)器的引腳直流參數(shù)測試效率。