光學(xué)防偽特征檢測(cè)方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610291269.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107346579A 公開（公告）日 2017-11-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN107346579A 申請(qǐng)公布日 2017-11-14
分類號(hào) G07D7/20(2016.01)I;G07D7/12(2016.01)I 分類 核算裝置;
發(fā)明人 鮑東山;陳新;萬(wàn)成凱;唐輝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京新岸線數(shù)字圖像技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100084 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路1號(hào)院清華科技園科技大廈A座16層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光學(xué)防偽特征檢測(cè)方法，包括：分別從兩個(gè)不同角度照射防偽圖案所在區(qū)域；以預(yù)定角度接收所述防偽圖案所在區(qū)域的反射光，獲取兩個(gè)不同的角度照射時(shí)所得到的圖像；比較所述兩個(gè)不同圖像，以確定所述防偽圖案是否為具有光學(xué)防偽特征的圖案。本發(fā)明提供的圖像傳感器、光學(xué)防偽特征檢測(cè)方法及裝置檢測(cè)識(shí)別率高、性能穩(wěn)定可靠。